菲希爾XDL220測厚儀高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置。

設(shè)計用途  能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF)， 用于測定超薄鍍層和溶液分析。 元素范圍  從元素 氯(17) 到 鈾(92) 配有可選的WinFTM® BASIC軟件時，最多可同時測定24種元素 設(shè)計理念  臺式儀器，測量門向上開啟 測量方向  由上往下。

XDL220： 固定工作臺，馬達驅(qū)動的Z軸系統(tǒng)。

采用了 FISCHER 基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。