菲希爾x射線熒光測(cè)厚儀XDV-μ LD

菲希爾x射線熒光測(cè)厚儀XDV-μ LD

XDV-μ 型系列儀器是專(zhuān)為在很微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測(cè)量和材料分析而設(shè)計(jì)的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達(dá)10至60μm。短時(shí)間內(nèi)就可形成高強(qiáng)度聚焦射線。除了通用型XDV-?型儀器，還有專(zhuān)門(mén)為電子和半導(dǎo)體行業(yè)而設(shè)計(jì)的儀器。如XDV-μLD是專(zhuān)為測(cè)量線路板而優(yōu)化的，而XDV-μ wafer是為在潔凈間使用而設(shè)計(jì)的。XDV-μ測(cè)量空間寬大，樣品放置便捷，特別適合測(cè)量平面和大型板材類(lèi)的樣品，還特意為面積超大的板材類(lèi)樣品(例如大線路板)留有一個(gè)開(kāi)口(C型槽)。連續(xù)測(cè)試或鍍層厚度和元素分布的測(cè)量都可以方便地用快速可編程XY工作臺(tái)完成。

菲希爾手持式熒光射線分析儀

菲希爾x熒光測(cè)厚儀特點(diǎn)

通用手持式X射線熒光分析儀，即使材料組合困難復(fù)雜的情況下，也可以進(jìn)行精確的鍍層厚度測(cè)量和材料分析；符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 標(biāo)準(zhǔn)

重量1.9 kg

一次電池充電可持續(xù)運(yùn)行6個(gè)小時(shí)

測(cè)量點(diǎn)：3毫米?

高分辨率硅漂移檢測(cè)器

用于戶(hù)外的IP54等級(jí)

用作臺(tái)式設(shè)備的可選測(cè)量箱；

使用完整版WinFTM®軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)

無(wú)錫駿展儀器有限責(zé)任公司提供專(zhuān)業(yè)的技術(shù)服務(wù)和售后服務(wù)的各種精密檢測(cè)儀器和設(shè)備,和專(zhuān)業(yè)的技術(shù)能力,全面的產(chǎn)品資源,深思熟慮的和快速的服務(wù),可靠的設(shè)備質(zhì)量為目的,在加工、*制造、新材料應(yīng)用,科學(xué)研究等前沿領(lǐng)域有*的優(yōu)勢(shì)。